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Suche: "Spurenanalyse"
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'"Spurenanalyse"'
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Person / Institution
1
Radiochemical neutron activation method for the determination of silicon at microgram and nanogram levels in high purity materials. Bestimmung von Siliciumspuren.
von
Schmid, W.
Veröffentlicht in
Anal.Chem.
(1986)
Artikel
Analyse
Isotop
Material, radioaktives
Spurenanalyse
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2
Spectrographic determination if impurities in high-purity tantalum oxide and niobium oxide.
von
Anderson, S.T.G.
Veröffentlicht in
Mintek Rep.
(1990)
Artikel
Analyse
ICP-AES
Spektralanalyse
Oxidverbindung
Reinmetall
…
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3
Spectographic determination of impurities in high-purity tantalum oxide and niobium oxide.
von
Anderson, S.T.G.
Veröffentlicht in
Mintek Rep.
(1990)
Artikel
Analyse
ICP-AES
Spektralanalyse
Oxidverbindung
Reinmetall
…
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4
Anreicherung von Ag,Bi,Cd,Hg,Pb,Tl,Zn an Ionenaustauscherpapieren für die Bestimmung durch Röntgenfluoreszenzanalyse
von
Haas, H.F.
Veröffentlicht in
Z.analyt.Chemie
(1985)
Artikel
Analyse
Pilotanlage
Verfahrensneuentwicklung
Ionenaustausch
Spurenanalyse
…
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Person / Institution: Anderson, S.T.G.
ODER Person / Institution: Krivan, V.
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Analyse
4
Spurenanalyse
2
ICP-AES
2
Niob
2
Oxidverbindung
2
Reinmetall
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2
Reinstmetall
2
Spektralanalyse
2
Tantal
1
Bismut
1
Blei
1
Cadmium
1
Ionenaustausch
1
Isotop
1
Material, radioaktives
1
Pilotanlage
1
Quecksilber
1
Silber
1
Thallium
1
Verfahrensneuentwicklung
1
Wismut
weniger ...
Erscheinungsjahr
Von:
Bis:
Person / Institution
5
Europäische Kommission
4
Hirschfeld, D.
3
Kudermann, G.
3
Ließmann, W.
3
Rösler, H.J.
3
Saito, M.
mehr ...
3
Wang, J.
Anderson, S.T.G.
2
Balaes, A.M.E.
2
Becker, S.
2
Braun, J. u.a
2
Danz, H.J.
2
Fokes, F.M.
2
Grenne, T.
2
Göd, R.
2
Hammer, J.
2
Jackwerth, E.
2
Jordan, H.
2
Kametani, H.
2
Kobayashi, M.
Krivan, V.
2
Priester, M.
2
Russel, G.M.
2
Scherer, V.
2
Schwedt, G.
2
Shulman, M.J.
2
Simeonova, S. u.a
2
Sperl, G.
2
Stoll, R.
2
Strelow, F.W.E.
weniger ...
Medientyp
4
Artikel, E-Artikel
Kollektion
4
GDMB
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